鍍層厚度的測量方法主要有：楔切法，光截法，電解法，厚度差測量法，稱重法，X射線熒光法，β射線反向散射法，電容法、磁性測量法及渦流測量法等等。這些方法中前五種是有損檢測，測量手段繁瑣，速度慢，多適用于抽樣檢驗。

X射線和β射線法是無接觸無損測量，測量范圍較小，X射線法可測薄鍍層、雙鍍層、合金鍍層。β射線法適合鍍層和底材原子序號大于3的鍍層測量。電容法僅在薄導電體的絕緣覆層測厚時采用。

鍍層測厚儀因為采用的是主機與探頭分離式的設計，所以在購買時有兩個不同量程的探頭可以選擇。F5N3的探頭，大量程厚可以測到5mm，F3N3的探頭，厚可以測到3mm。

在測量以mm為單位的鍍層厚度時，大量程的鍍層測厚儀LS223就可以滿足您的測量需求。客戶在選購時可以根據測量材料的厚度來選擇相應的探頭。鍍層測厚儀90天無理由退換貨，不滿意都可以退。

鍍層測厚儀在使用前為減少測量的誤差，可以進行簡單的調零。用附送的鋁或者鐵調零板調零即可。調零方法：

1、將探頭垂直按壓在調零板中間的位置，保持探頭的穩定。

2、按下按鍵，屏幕會提示壓緊探頭，再根據提示把探頭提起15cm以上。

3、屏幕顯示0.0則調零完畢。

4、完成后，可以把有標準值的測試片放在調零板上測量。測量的數值與標準測試片的誤差范圍之內，則說明儀器可以正常使用了。

鍍層測厚儀采用了電渦流原理以及霍爾效應測量的原理。主要用于測量金屬以及非金屬等基體上的油漆層、電鍍層等非磁性材料的厚度。可以無損的測量出涂鍍層的厚度。

廣泛應用在電鍍、噴涂、管道防腐、鋁型材、鋼結構、印刷線路版、及絲網印刷等行業中。特別適合用于生產現場的質量管控。

我們全體員工以飽滿的熱情，期待與五湖四海的新老朋友合作。一直秉承滿足用戶需求，至真至誠，著眼現在，放眼未來的經營理念。